平板膜泡點(diǎn)測(cè)試儀

簡要描述：平板膜泡點(diǎn)測(cè)試儀
泡點(diǎn)法測(cè)試最大孔徑的方法是先將分離膜用測(cè)試液體全浸潤，以緩慢的速度增加進(jìn)膜側(cè)氣體壓力，觀察透過膜側(cè)氣體的鼓泡情況以獲得氣體通過最大膜孔時(shí)的分離膜最大孔徑。氣體通過分離膜的液封層出現(xiàn)第一串連續(xù)氣泡時(shí)的壓力即為泡點(diǎn)壓力，由泡點(diǎn)壓力可以計(jì)算分離膜最大孔徑。

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更新時(shí)間：2024-09-14
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平板膜泡點(diǎn)測(cè)試儀

平板膜泡點(diǎn)測(cè)試儀

測(cè)試方法概述

泡點(diǎn)法測(cè)試最大孔徑的方法是先將分離膜用測(cè)試液體全浸潤，以緩慢的速度增加進(jìn)膜側(cè)氣體壓力，觀察透過膜側(cè)氣體的鼓泡情況以獲得氣體通過最大膜孔時(shí)的分離膜最大孔徑。氣體通過分離膜的液封層出現(xiàn)第一串連續(xù)氣泡時(shí)的壓力即為泡點(diǎn)壓力，由泡點(diǎn)壓力可以計(jì)算分離膜最大孔徑。

測(cè)試方法與要點(diǎn)

本測(cè)試方法的應(yīng)用包括以下內(nèi)容：

測(cè)試分離膜的最大孔徑；比較不同分離膜的最大孔徑；確定過濾、涂覆、高壓滅菌等不同過程對(duì)分離膜最大孔徑的影響。

分離膜具有離散的類似于毛細(xì)管的貫穿膜兩側(cè)的孔結(jié)構(gòu)。泡點(diǎn)法基于以下原理：測(cè)試液體在毛細(xì)吸附與表面張力的作用下吸附于毛細(xì)管孔中，而將這些液體排出上述毛細(xì)管孔所需的最小壓力是最大孔徑的函數(shù)。在測(cè)試中促使連續(xù)起泡開始產(chǎn)生時(shí)的壓力就是泡點(diǎn)壓力。泡點(diǎn)法不但能測(cè)出分離膜最大孔徑，也能檢測(cè)出膜破損、膜組件無效密封與系統(tǒng)泄漏。

本測(cè)試方法不能作為單一指標(biāo)去描述分離膜對(duì)流體中粒狀污染物的截留孔徑大小。由該法測(cè)出的有效孔徑是基于毛細(xì)管孔具有圓形截面的假設(shè)，不能以其作為實(shí)際的截留孔徑大小。